Struktur
Mikroskop für die Schichtanalyse
Bruker LUMOS II FT-IR · MCT-Detektor
Wenn die gelieferte Struktur nicht der bestellten entspricht, zeigt es der Querschnitt. Wir nutzen die Analyse auch für die Ursache einer Delamination oder einer versagenden Siegelung.
Interne Methode
Foto 03 - Bruker LUMOS II - BarrierLab
- Datum
- 4. November 2026, 10:58
- Ort
- Labor BarrierLab, TRC Park, Jucu de Sus
- GPS-Koordinaten
- 46.877579, 23.785723
- Gerät
- Bruker LUMOS II
- Kamera
- Apple iPhone 17 Pro
- Bearbeitung
- Auf 4:3 zugeschnitten und verkleinert, ohne weitere Retusche
- KI-Bearbeitung
- Nein
- Originaldatei
- IMG_7175.jpeg
Foto 03 - Bruker LUMOS II - BarrierLab
Was wir messen
- —Anzahl und Dicke der Schichten, mit Bildern bei einer Auflösung von etwa 2 µm
- —Chemische Identifizierung der Komponenten (FT-IR)
- —Qualität der Kaschierung
- —Fehler: Blasen, Einschlüsse, Stippen
- —Analyse der Bruchfläche
Wo es eingesetzt wird
Prüfung der angegebenen Struktur, Untersuchung einer Reklamation, Vergleich zweier Lieferanten.
Prüfdaten
| Benötigte Probe | Stück 100 × 100 mm aus dem fehlerhaften Bereich |
| Konditionierung | — |
| Bearbeitungsdauer | 10 Arbeitstage |
| Lieferumfang | Prüfbericht (RO / EN) |
Richtwerte – Bestätigung mit dem Angebot.
Diese Prüfung anfragen